Fujicom晶振,贴片晶振,FDO-536晶振,FDO-526晶振
频率:80-250MHZ
尺寸:5.0*3.2*1.2mm
Fujicom晶振,贴片晶振,FDO-536晶振,FDO-526晶振, 2000年7月
台湾yangtec electronics corp。与富士com品牌的销售合同。
2001年1月
“水晶震动”自动检测装置。
2005年8月
传输法水晶振荡器自动检查装置。
2008年6月
韩国将在国内销售kec和kec制的半导体。
10月
参展东京商务峰会。
开始销售led灯。
12月
开始销售高压薄膜电容器。
2011年12月
高电压薄膜电容器lcr产品引进。
2012年7月
东芝产半导体开始销售。
2013年1月
软件委托开发开始。
5月
总公司新办公室改建迁移。
10月
shoprider的电动汽车开始销售。
2014年7月
小规模事业者可持续发展补助金。
2015年5月
㈱ぱるぱる产电动卡丁车“パルパル”开始销售。
富士com有限公司于2013年创立20期,创立20周年,Fujicom晶振,贴片晶振,FDO-536晶振,FDO-526晶振
有源石英晶振,无论是温补晶体振荡器也好,压控晶振也罢,产品均采用了,离子刻蚀调频技术,比目前一般使用的真空蒸镀方式调频,主要在产品参数有以下提升:
1.微调后调整频率能控制在±2ppm,一般只能保持在±5ppm;
2.产品的激励功率相关性参数有大幅提升;
3.产品的长期老化率可保证在±2ppm之内
5032mm体积的石英晶体振荡器有源晶振,改产品可驱动2.5V的温补晶振,压控晶振,VC-TCXO振荡器产品,电源电压的低电耗型,编带包装方式,可对应自动高速贴片机自动焊接,及IR回流焊接(无铅对应),为无铅产品,超小型,质地轻.产品被广泛应用到集成电路,程控交换系统,无线发射基站.Fujicom晶振,贴片晶振,FDO-536晶振,FDO-526晶振
Fujicom晶振规格 |
单位 |
FDO-536晶振,FDO-526晶振频率范围 |
石英晶振基本条件 |
|
标准频率 |
f_nom |
80-250MHZ |
标准频率 |
|
储存温度 |
T_stg |
-40°C to +85°C |
裸存 |
|
工作温度 |
T_use |
-10°C to +70°C |
标准温度 |
|
激励功率 |
DL |
1.0μW Max. |
推荐:1μW ~ 100μW |
|
频率公差 |
f_— l |
±50 × 10-6 (标准), |
+25°C 对于超出标准的规格说明,请联系我们以便获取相关的信息,/ |
|
频率温度特征 |
f_tem |
±50 × 10-6/25°C |
超出标准的规格请联系我们. |
|
负载电容 |
CL |
15PF |
不同负载电容要求,请联系我们. |
|
串联电阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C — +85°C, DL = 100μW |
|
频率老化 |
f_age |
±3 × 10-6 / year Max. |
+25°C,第一年 |
如图2所示,包含电源和波形发生器的测试装置是一种可控测试方法,用于评估振荡器的PSNS性能。波形发生器以指定的电压和频率添加系统噪声,以测量电源噪声对振荡器抖动的影响。0中的曲线显示积分相位抖动与电源开关噪声频率的函数关系,峰峰值电源噪声为50 mV,比较了各种石英晶体振荡器与LVCMOS输出的Fujicom MMD MEMS振荡器的结果。如图所示,Fujicom MMD的MEMS振荡器抖动在所有噪声频率中都较低。其原因是内置于Fujicom MMD振荡器电路中的降噪电路可以保护振荡器免受电源引起的抖动。Fujicom晶振,贴片晶振,FDO-536晶振,FDO-526晶振
外部EMI噪声
要考虑的另一个重要噪声源是外部产生的EMI噪声,这会影响振荡器的性能(与时钟源发出的EMI信号相反)。电源,电源线,雷电,计算机设备和电子元件都是外部产生EMI的潜在来源,可通过辐射将其耦合到系统中。EMI是无源光网络(PON),蜂窝基站等应用中的主要关注点,以及许多用于存在大型电磁源的户外环境的产品。在具有多个开关电源的密集电子板中,EMI也是一个问题,因为振荡器元件可以靠近这些电源放置。入站EMI可以改变时钟抖动,并且在灾难性情况下,甚至是时钟设备的工作频率,都会对依赖于时钟信号的系统的功能产生负面影响,从而实现可靠的性能。存在输入EMI时,相位抖动和相位噪声会显着增加,尝试滤除到达振荡器的噪声并不总是成功。另一种方法是设计成功抑制EMI的时钟设备。电磁敏感度或EMS可量化EMI对电子电路(如振荡器)的有害影响。另一种方法是设计成功抑制EMI的时钟设备。电磁敏感度或EMS可量化EMI对电子电路(如振荡器)的有害影响。另一种方法是设计成功抑制EMI的时钟设备。电磁敏感度或EMS可量化EMI对电子电路(如振荡器)的有害影响。
EMS可以按照EMC标准IEC EN61000-4.3中规定的程序进行测量。本标准规定了在80 MHz至1 GHz的频率范围内以3%递增步长的3 V / m的辐射电磁(EM)场。被测设备位于一个经过校准的消声室中,其位置与垂直极化天线的轴线对齐,如图4所示。相位噪声分析仪和高精度,低噪声数字信号分析仪捕获振荡器相位噪声。电磁场引起噪声杂散,并且杂散的平均功率提供振荡器的EMS的度量。Fujicom晶振,贴片晶振,FDO-536晶振,FDO-526晶振
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